نهتم بالكيمياء و الكيميائيين
نهتم بالكيمياء و الكيميائيين
نهتم بالكيمياء و الكيميائيين

High-Resolution Measurement of Film Thickness and Refractive Index for Silicon Photonics and Planar Waveguide Applications

الأربعاء06ديسمبر9:00 pmالأربعاء10:00 pmHigh-Resolution Measurement of Film Thickness and Refractive Index for Silicon Photonics and Planar Waveguide Applicationsالتصنيف:مجاناً,ندوة عن بعد المنظم:Bruker9:00 pm - 10:00 pm(GMT+03:00) اعرض بتوقيتك

الوقت

(الأربعاء) 9:00 pm - 10:00 pm(GMT+03:00) اعرض بتوقيتك

ملاحظة: رابط التسجيل تابع للجهة المنظمة، لايتحمل الموقع أي سوء استخدام لبيانات تسجيلك.

نسعد بتواصلكم

ملاحظة: خاصية (البقاء متصلاً) قد لا تعمل بشكل المطلوب على بعض الأجهزة، لذلك قد يطلب منك تسجيل الدخول في كل مرة، جارِ العمل على إصلاحها.

اذهب إلى الأعلى